碳化硅超細微粉的粒度檢測
粒度,即是顆粒的大小,目前檢測碳化硅超細微粉粒度的手段有很多種,最流行的,也是最簡便的方法是采用激光粒度儀進行測量,方法簡單,測試速度快,精度高,準確性高。在從事碳化硅超細微粉生產(chǎn)中需要對粉體顆粒粒度迅速檢測中,激光粒度分析儀是個錯的選擇。特點是快速。
檢測粒度(顆粒大小)的方法有很多,“篩分析法”是其中一種。另外有“沉降法”、“激光法”、“電傳感法”等等。
由于,實際顆粒不是標準球形的;所以同一個樣品,用不同方法測出的粒度數(shù)值有差異;形狀離球形越遠,差異越大。用激光法測到的粒度,對應目數(shù)是很不準確的。目數(shù)是對應篩分析法的。
檢測粒度(顆粒大小)的方法有很多,“篩分析法”是其中一種。另外有“沉降法”、“激光法”、“電傳感法”等等。
由于,實際顆粒不是標準球形的;所以同一個樣品,用不同方法測出的粒度數(shù)值有差異;形狀離球形越遠,差異越大。用激光法測到的粒度,對應目數(shù)是很不準確的。目數(shù)是對應篩分析法的。
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